HOMMEL ETAMIC Waveline W900 粗糙度轮廓仪

超精确测量的短周期

Waveline W900 纳米扫描粗糙度和轮廓测量

带仪器台的 Waveline W900

Waveline W900 系列专为高性能领域的测量任务而开发，例如在自动化过程链的环境中。该系统有两个用于耦合触摸探头的接口，以及用于自动化测量序列的可选附加轴。接触式探头的布置和创新的横移概念确保了对测量点的最佳访问。

W900 测量系统特别用于自动测量序列，以获得特别快速和精确的结果。凭借其测量轴，它们保证了复杂测量任务的短测量周期，从而满足了对测量技术的最高要求。高精度横移装置与 Nanoscan 接触式探头结合使用，可提供出色的测量精度，以进行粗糙度和轮廓测量。

系统特点

快速测量技术

高度灵活的动态测量

与 Nanoscan 探头系统相结合，具有出色的测量精度

用于自动化、CNC 控制测量运行的广泛选项

两个探头系统的双重作;粗糙度探头系统也可以安装在横移单元的前部;也适用于可选的旋转模块

可选的电动倾斜装置，用于精确调整倾斜角度并将探头自动对准工件水平

测量分辨率为 0.1 μ m 的线性刻度 Z 柱，用于测量探头 Z 测量范围之外的垂直距离;需要带双探头尖端的探头臂

额外的电动 Y 轴或 X-Y 轴组合，用于自动天顶搜索、形貌测量和工件定位

可选旋转轴，用于圆周和轴向圆柱形工件的粗糙度测量